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薄膜厚度测量仪(F10、F20、F30、F40)

ID号:294  发布日期: 2009-12-17    截止日期: 2011-11-17  地区:陕西省 浏览次数:0

仪器所在单位:

产品名称:F20便携式膜厚测量系统
  产品简介:有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是:3nm~25um,精度为0.1nm。
  
  产品特性:
  1、操作简单、使用方便;
  2、测量快速、准确;
  3、体积小、重量轻;
  4、价格便宜;
  
  产品应用:
  1、半导体行业:光阻、氧化物、氮化物;
  2、LCD行业:液晶盒间隙厚度、Polyimides;
  3、光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片。

联系方式

  • 联系人:田小姐
  • 电 话:
  • 地 址:北京市海淀区长春桥路11号亿城大厦C1座303
  • E-mail:
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