厚度测量仪F20-UV（高光科技）

产品名称：F20-UV便携式膜厚测量系统。

　　产品简介：是F20系列下的一个型号，用来测量比较薄的薄膜。波长范围：220nm至1100nm。薄膜厚度的测量范围是：3nm～50um，精度为0.1nm。
　　
　　产品特性：
　　1、操作简单、使用方便；
　　2、测量快速、准确；
　　3、体积小、重量轻；
　　4、价格便宜。
　　
　　产品应用：
　　1、半导体行业：光阻、氧化物、氮化物；
　　2、LCD行业：液晶盒间隙厚度；
　　3、光电镀膜应用：硬化膜、抗反射膜、滤波片。