光学薄膜厚度测量仪F40
产品简介：
可安装在任何显微镜外，有三种不同波长选择(波长范围从可见光400nm至近红外1700nm)。可提供最小10um光点(50倍放大倍数)来测量微小样品。
产品参数：
测量范围：5X物镜 ： 20nm ~ 20um
10X物镜 ： 20nm ~ 15um
50X物镜 ： 20nm ~ 2um
波长范围：400～1000nm
测量精度：0.4% or 10 Å
应用领域:
半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
太阳能电池行业等
联系方式
- 联系人：田园
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- 地 址：北京市海淀区长春桥路11号亿城大厦C1座303
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发布人信息
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