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能量色散X荧光分析仪系列

2010-06-07 11:09:46  作者:  来源:互联网  浏览次数:185  文字大小:【】【】【

产品一:CIT-3000SM 能量色散X荧光分析仪
应用领域:适用于矿山、选矿厂、冶炼厂、水泥等企业在生产过程中对产品质量进行监测;

  1. CIT-3000SM 产品配置:
    *  采用进口的美国AMPTEK航天技术的 SI(PIN)半导体探测器系列
    *  采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术
    *  采用进口X光管
    *  采用专用的X射线高压发生器
    *  采用RS232串口通讯
    *  采用精密的系统控制电路和数字处理电路
    *  采用专有的分析算法软件模块V2.0A
    *  配备品牌电脑
    *  配备常用的制样工具
    *  配备专用的压片机
    *  配备专用的测试样环
    *  配备专用的测试硬标样

    2.CIT-3000SM 技术指标:
    *  分析元素范围:Mg-U(主要是:Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、 Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd);
    *  元素含量分析范围:1ppm -99.99%(采用1024 道多道分析器,分析精度更高);
    *  采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合专利的数字脉冲处理技术;
    *  测量范围:1-30KeV;
    *  管压:0kV-30kV(激发源为 30KV-钨靶微型X射线管);
    *  管流:5μA-200μA;(可减少整机功耗和降低辐射);
    *  整机功率:50W;
    *  整机能量分辨率:150±5eV;
    *  检测时间: <200S;
    *  工作环境温度:温度0-40℃;
    *  工作环境相对湿度:≤99%(不结露);
    *  测量物质状态:固体、粉末均可检测,制样简单;
    *  一体化设计,性能稳定,运行可靠,性价比高;操作简单,测量时间短;


产品二:台式CIT-3000SMQ水泥全元素分析仪
主要用于水泥生产企业生产控制,水泥全元素快速检测;

1. CIT-3000SMQ水泥全元素产品配置:
    *  采用进口的美国AMPTEK航天技术的 SI(PIN)半导体探测器系列
    *  采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术
    *  采用进口X光管
    *  采用专用的X射线高压发生器
    *  采用RS232串口通讯
    *  采用精密的系统控制电路和数字处理电路
    *  采用专有的分析算法软件模块V2.0A
    *  配备品牌电脑
    *  配备常用的制样工具
    *  配备专用的压片机
    *  配备专用的测试样环
    *  配备专用的测试硬标样

    2.CIT-3000SMQ水泥全元素技术指标:
    *  分析元素范围:Mg-U(主要是:Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、 Cu);
    *  元素含量分析范围:1ppm -99.99%(采用1024 道多道分析器,分析精度更高);
    *  采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合专利的数字脉冲处理技术;
    *  测量范围:1-30KeV;
    *  管压:0kV-30kV(激发源为 30KV-钨靶微型X射线管);
    *  管流:5μA-200μA;(可减少整机功耗和降低辐射);
    *  整机功率:50W;
    *  整机能量分辨率:150±5eV;
    *  检测时间: <200S;
    *  工作环境温度:温度0-40℃;
    *  工作环境相对湿度:≤99%(不结露);
    *  测量物质状态:固体、粉末均可检测,制样简单;
    *  一体化设计,性能稳定,运行可靠,性价比高;操作简单,测量时间短;

产品三:CIT-3000SY石油岩屑荧光分析仪
主要用于石油录井、岩性判断、岩层判断等领域;

1. CIT-3000SY 产品配置:
    *  采用进口的美国AMPTEK航天技术的 SI(PIN)半导体探测器系列
    *  采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术
    *  采用进口X光管
    *  采用专用的X射线高压发生器
    *  采用RS232串口通讯
    *  采用精密的系统控制电路和数字处理电路
    *  采用专有的分析算法软件模块V2.0A
    *  配备品牌电脑
    *  配备常用的制样工具
    *  配备专用的压片机
    *  配备专用的测试样环
    *  配备专用的测试硬标样

    2.CIT-3000SY 技术指标:
    *  分析元素范围:Mg-U(主要是:Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、 Cu);
    *  元素含量分析范围:1ppm -99.99%(采用1024 道多道分析器,分析精度更高);
    *  采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合专利的数字脉冲处理技术;
    *  测量范围:1-30KeV;
    *  管压:0kV-30kV(激发源为 30KV-钨靶微型X射线管);
    *  管流:5μA-200μA;(可减少整机功耗和降低辐射);
    *  整机功率:50W;
    *  整机能量分辨率:150±5eV;
    *  检测时间: <200S;
    *  工作环境温度:温度0-40℃;
    *  工作环境相对湿度:≤99%(不结露);
    *  测量物质状态:固体、粉末均可检测,制样简单;
    *  一体化设计,性能稳定,运行可靠,性价比高;操作简单,测量时间短;



    咨询方式:
    四川新先达测控技术有限公司 西安办事处 
    张鹏 029-85354398 15319733846
    book2008725@sohu.com
    www.xaxxd.com
    www.xrfcn.com
 


责任编辑:zhangh


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